| 分析测试报告 |
酸处理后的氧化锆中锆的XPS |
XPS of Zr in AHP-treated ZrO2 after acid treatment |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2022-01-05 |
| 分析测试报告 |
TiO2 5wt%硅胶样品紫外原始数据 |
Uv raw data of TiO2 5wt% silica gel samples |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
氧化锆纳米颗粒XRD谱图对比 |
Comparison of XRD patterns of zirconia nanoparticles |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
氧化锆纳米颗粒拉曼光谱 |
Raman spectrum of zirconia nanoparticles |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
不同温度氧化锆纳米颗粒XRD |
XRD patterns of zirconia nanoparticles under different temperatures |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
室温~ 500℃下氧化锆纳米颗粒XRD |
XRD patterns of zirconia nanoparticles preparedunder room temperature to 500 ℃ |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
6 ~ 48 h 氧化锆纳米颗粒的XRD谱图 |
XRD patterns of the ZrO2NPs under times from 6 to 48 h |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
6 ~ 48 h 氧化锆纳米颗粒的拉曼 |
Raman spectrum of the ZrO2NPs under times from 6 to 48 h |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
不同NaOH浓度的氧化锆纳米颗粒DLS |
DLS of Zirconia nanoparticles with different NaOH concentrations |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
不同H2O2浓度的氧化锆纳米颗粒DLS |
DLS of Zirconia nanoparticles with different H2O2 concentrations |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
