| 分析测试报告 |
不同NaOH浓度的氧化锆纳米颗粒DLS |
DLS of Zirconia nanoparticles with different NaOH concentrations |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
不同H2O2浓度的氧化锆纳米颗粒DLS |
DLS of Zirconia nanoparticles with different H2O2 concentrations |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
5微米下氧化锆的TEM图 |
TEM image of zirconia at 5 microns |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
1微米下氧化锆的TEM图 |
TEM image of zirconia at 1 microns |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
200nm下氧化锆的TEM图 |
TEM image of zirconia at 200 nanometers |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
100k下氧化锆的SEM图 |
SEM image of zirconia at 100k |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
AHP处理前后ZrO2纳米颗粒的DLS的粒径分布 |
size distribution of the commercial ZrO2 NPs before and after AHP treatment. |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
氧化锆的胶体稳定性 |
Colloidal stability of ZrO2 nannoparticles |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
200nm下AHP处理的1wt%氧化锆的TEM |
TEM images for 1% the AHP-treated ZrO2 at 200 nanometers |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
| 分析测试报告 |
购买的氧化锆的TEM |
TEM images for untreated ZrO2 at 1micrometer |
第三代半导体核心配套材料-新型第三代半导体器件封装胶材料及制备技术数据集 |
2021-12-20 |
